Via Guido Rossa, 14/A, 23875 Osnago (LC) - Italy

Duetto 2: analizzatore XRF/XRD portatile per beni culturali

Duetto 2 di eXaminart è un analizzatore XRF/XRD portatile sviluppato per l’analisi non invasiva e in situ di opere d’arte, reperti archeologici e beni culturali. Lo strumento acquisisce dati di fluorescenza e diffrazione a raggi X dalla stessa area, fornendo informazioni complementari sulla composizione elementare e sulle fasi cristalline. Può essere utilizzato in musei, laboratori, siti archeologici e cantieri di restauro.

Download brochure:

Applicazioni: Archeologia, Beni culturali, Didattica, Laboratorio, Mineralogia, Ricerca e università, XRF
Settore: Beni culturali e restauro, Laboratori, Settore accademico e ricerca scientifica

Descrizione

Duetto 2: analizzatore XRF/XRD portatile per beni culturali

Duetto 2 di eXaminart è un analizzatore XRF/XRD portatile progettato per lo studio non invasivo di opere d’arte, reperti archeologici e materiali appartenenti al patrimonio culturale.

Lo strumento combina la diffrazione a raggi X, o XRD, con la fluorescenza a raggi X, o XRF. Le due tecniche analizzano la stessa area dell’oggetto durante la medesima sequenza di misura. Di conseguenza, è possibile correlare composizione elementare e struttura cristallina senza spostare lo strumento tra le acquisizioni.

Duetto 2 può essere utilizzato sia in laboratorio sia direttamente sul campo. È quindi adatto a musei, siti archeologici, cantieri di restauro, istituti di conservazione e progetti di ricerca.

Analisi XRD e XRF sullo stesso punto

La XRD consente di riconoscere le fasi cristalline presenti nell’area analizzata. Questa informazione è utile per identificare pigmenti, minerali, prodotti di corrosione e materiali di alterazione.

La XRF fornisce invece dati sulla composizione elementare. I risultati aiutano a interpretare il diffrattogramma e possono confermare la presenza degli elementi associati alle fasi individuate dalla XRD.

La combinazione delle due tecniche riduce le ambiguità che possono emergere utilizzando la sola analisi elementare. Infatti, materiali diversi possono contenere gli stessi elementi ma presentare strutture cristalline differenti.

Allo stesso modo, la sola XRD può risultare più difficile da interpretare in presenza di miscele complesse. Il confronto con lo spettro XRF offre quindi un supporto utile all’identificazione.

Analisi non invasiva direttamente sull’opera

Duetto 2 è stato sviluppato specificamente per applicazioni nei beni culturali. Nelle normali condizioni operative, l’analisi non richiede il prelievo del campione.

Lo strumento può essere posizionato davanti a dipinti, affreschi, statue, ceramiche, manoscritti e manufatti archeologici. Inoltre, le diverse opzioni di montaggio permettono di lavorare su oggetti con dimensioni e geometrie differenti.

Questa flessibilità è importante quando l’opera non può essere trasportata oppure quando il prelievo non è consentito. Tuttavia, accessibilità della superficie, curvatura e condizioni conservative devono essere valutate prima della misura.

Rilevatore CCD e sorgente X miniaturizzata

Duetto 2 utilizza un rilevatore CCD deep-depleted a conteggio di fotoni. Il sensore è alloggiato in un sistema sigillato sottovuoto ed è raffreddato mediante tecnologia Peltier.

La sorgente è costituita da un tubo a raggi X miniaturizzato con costruzione ceramica-metallo. Il sistema integra inoltre l’alimentazione ad alta tensione e l’elettronica di controllo.

Questa configurazione permette di estrarre dati XRD e XRF dalle esposizioni registrate dal CCD. Durante l’acquisizione, gli spettri e i diffrattogrammi vengono elaborati e visualizzati sul computer.

Posizionamento preciso sulla zona di interesse

Una telecamera a colori integrata mostra in tempo reale la superficie analizzata. Inoltre, l’illuminazione LED migliora la visibilità dell’area di misura.

Il laser microfocalizzato aiuta a individuare il punto selezionato e a posizionare correttamente lo strumento. In questo modo l’operatore può documentare l’area e verificare l’allineamento prima dell’acquisizione.

Il micro-posizionatore dedicato consente regolazioni precise lungo gli assi X, Y e Z. Sono disponibili anche due inclinazioni, utili per mantenere lo strumento perpendicolare alla superficie.

Supporti per musei, laboratori e cantieri di restauro

Duetto 2 può essere installato su diverse strutture. Il pentapod combina un treppiede robusto, un braccio di estensione e appoggi stabilizzanti. È indicato per analisi davanti a dipinti, statue e superfici verticali.

Il supporto da banco offre invece maggiore stabilità in laboratorio. Può essere utilizzato con piccoli oggetti, manoscritti e dipinti disposti orizzontalmente.

Per i cantieri di restauro è disponibile anche un sistema di fissaggio alle impalcature. Inoltre, alcune configurazioni possono integrare una movimentazione motorizzata.

Applicazioni di Duetto 2 nei beni culturali

L’analizzatore XRF/XRD portatile può supportare lo studio di pigmenti, preparazioni pittoriche, prodotti di corrosione, patine e materiali minerali. Trova applicazione anche nell’analisi di ceramiche, affreschi, statue, manoscritti e reperti archeologici.

I dati possono contribuire alla caratterizzazione dei materiali originali e alla valutazione degli interventi precedenti. Inoltre, possono aiutare a studiare fenomeni di degrado o trasformazioni avvenute nel tempo.

L’identificazione finale deve comunque considerare il contesto storico, la stratigrafia dell’opera e la possibile sovrapposizione dei segnali. Per questo motivo, l’interpretazione deve essere eseguita da personale competente.

Software e interpretazione dei risultati

Il software di controllo visualizza dati XRD e XRF durante l’acquisizione. L’interfaccia consente inoltre di configurare la misura e svolgere una prima interpretazione dei risultati.

I diffrattogrammi possono essere elaborati con comuni software per XRD da polveri. Quando non è già disponibile una piattaforma dedicata, eXaminart propone l’applicazione online QAnalyze.com. Sono inoltre disponibili software di terze parti.

Origine della tecnologia e portabilità

La tecnologia di Duetto 2 deriva dall’esperienza maturata con strumenti XRD/XRF sviluppati per l’esplorazione planetaria della NASA. In particolare, eXaminart collega il progetto alla tecnologia impiegata dal rover Curiosity su Marte.

La miniaturizzazione permette di ottenere uno strumento completo dal peso di circa 6 kg e con un ingombro principale inferiore a 35 cm. Inoltre, il ridotto assorbimento permette l’impiego con una stazione di alimentazione a batteria opzionale.

Duetto 2, microScanix e FeniX: tecnologie complementari

Duetto 2 è la soluzione più indicata quando servono informazioni elementari e cristallografiche sullo stesso punto. Se l’obiettivo principale è invece creare mappe della distribuzione elementare ad alta risoluzione, è disponibile il micro-XRF portatile microScanix.

Per l’analisi XRD/XRF di campioni in polvere è possibile valutare FeniX, analizzatore XRD/XRF da banco. La scelta dipende quindi dal campione, dall’informazione richiesta e dalla possibilità di effettuare un prelievo.

Supporto tecnico QuantAnalitica

QuantAnalitica affianca musei, università, restauratori e laboratori nella scelta della configurazione di Duetto 2. La valutazione considera il tipo di opera, la superficie, le fasi da identificare e le condizioni di misura.

Il servizio comprende consulenza applicativa, dimostrazione, installazione, formazione e assistenza tecnica. Per ulteriori informazioni è possibile consultare la pagina ufficiale eXaminart dedicata a Duetto 2.

Specifiche tecniche Duetto 2

Caratteristica Specifica
Prodotto Duetto 2
Produttore eXaminart
Tecniche analitiche Diffrazione a raggi X (XRD) e fluorescenza a raggi X (XRF)
Modalità di analisi Acquisizione XRD e XRF dalla stessa area del campione durante la medesima sequenza di misura
Rilevatore CCD deep-depleted a conteggio di fotoni
Formato del rilevatore 1024 × 256 pixel, pixel da 26 µm
Raffreddamento del rilevatore Peltier fino a circa -45 °C, sistema sottovuoto sigillato e raffreddamento ad aria forzata
Tubo a raggi X Costruzione ceramica-metallo, catodo a massa e raffreddamento ad aria forzata
Tensione e potenza del tubo 25 kV nominali regolabili; potenza massima 10 W regolabile
Materiale target Cobalto; rame disponibile su richiesta
Filtro dei raggi X Filtro Kβ predefinito e rimovibile
Intervallo XRD Da 20 a 55 °2θ
Risoluzione XRD Da 0,2 a 0,3 °2θ FWHM
Intervallo XRF Da 3 a 20 keV
Risoluzione XRF <200 eV FWHM in corrispondenza di Mn Kα
Visualizzazione del campione Telecamera a colori integrata, illuminazione LED e laser di posizionamento
Tempo indicativo di analisi Da 10 a 60 minuti, in funzione del campione e della qualità del dato richiesta
Temperatura ambientale operativa Da 0 a 30 °C
Alimentazione 12–24 Vdc da adattatore AC o batterie al litio opzionali
Assorbimento Circa 40 W durante il funzionamento; specifica di alimentazione pubblicata fino a 45 W
Dimensioni Ingombro principale inferiore a 35 cm secondo la presentazione ufficiale corrente; il supporto determina l’ingombro complessivo
Peso Circa 6 kg per lo strumento completo
Computer di controllo Laptop da 15″ ad alte prestazioni, collegamento USB e compatibilità Linux/Windows
Software di controllo Interfaccia grafica per controllo, acquisizione, visualizzazione e interpretazione preliminare
Software di interpretazione QAnalyze.com o software XRD di terze parti
Formati di esportazione TXT, CSV, XY, PLV, MDI e altri formati ASCII su richiesta
Supporti disponibili Micro-posizionatore, pentapod, supporto da banco, supporto per ponteggi e configurazioni motorizzate
Trasporto Custodia robusta per trasporto terrestre e aereo, compatibile con bagaglio registrato

Nota: sorgente, supporti, sistema di posizionamento, alimentazione e software possono variare in base alla configurazione. Le caratteristiche definitive devono essere confermate in fase di offerta.

Nessuna nota applicativa disponibile.

Richiedi informazioni sul prodotto

Puoi scriverci direttamente tramite il modulo qui sotto. Compila tutti i campi obbligatori e il nostro team ti risponderà il prima possibile.

    Ho letto e compreso la Privacy Policy di QuantAnalitica

    Loading...

    Compila il form per scaricare le Note Applicative