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XRF portatile nei suoli contaminati: cosa dice la ricerca

UNINA-pXRF

Uno studio pubblicato su Science of the Total Environment e condotto da ricercatori dell’Università degli Studi di Napoli Federico II ha valutato potenzialità e limiti dell’XRF portatile Delta Professional di Olympus nel monitoraggio dei metalli in suoli contaminati.

La ricerca ha confrontato le misure ottenute con un analizzatore pXRF Delta Professional di Olympus con i risultati di laboratorio basati su digestione in acqua regia e analisi ICP-MS. Le misure pXRF sono state eseguite in laboratorio su campioni essiccati, setacciati e omogeneizzati, così da garantire un confronto più controllato tra le due tecniche.

I risultati mostrano buone correlazioni per diversi elementi, tra cui Cu, Pb, Zn, Cd, Cr e Ni, ma evidenziano un aspetto centrale: la relazione tra pXRF e metodi di laboratorio non è universale. Dipende dal metallo analizzato, dalla matrice del suolo, dalla mineralogia e dall’origine della contaminazione.

In particolare, per molti elementi i valori ottenuti in acqua regia risultano inferiori rispetto a quelli misurati con pXRF, perché la digestione non dissolve completamente alcune fasi minerali, come i silicati. Le correlazioni migliori emergono soprattutto per metalli di origine antropica, più direttamente legati alla contaminazione del sito.

Lo studio conferma quindi che l’XRF portatile può essere uno strumento molto utile per lo screening rapido, la caratterizzazione spaziale e il monitoraggio nel tempo dei suoli contaminati. Non sostituisce automaticamente le analisi di laboratorio, ma può affiancarle in modo efficace se inserito in un metodo analitico controllato e validato sul sito specifico.

Referenze:
Caporale, A.G.; Adamo, P.; Capozzi, F.; Langella, G.; Terribile, F.; Vingiani, S. Monitoring metal pollution in soils using portable-XRF and conventional laboratory-based techniques. Science of the Total Environment, 2018, 643, 516–526. DOI: 10.1016/j.scitotenv.2018.06.178.

Link: https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S004896971832254X

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